第231章 生产测试（下）(第2页)

 “或许是工人对新的生产线不熟悉，操作过程中有失误吧。毕竟他们以前操作的都是使用duv光刻机的28nm生产线，和这条使用euv光刻机的7nm芯片生产线，差距还是有些大的。” 

 “说的有道理，操作不当确实有可能影响最终的芯片良品率。整个芯片生产流程有着几百个步骤，任何一个节点上出了问题，都会影响最后的良品率。” 

 “在我看来，芯片合格率为零也没什么奇怪的，这毕竟是一条全新的芯片生产线，新设备，新工艺，再加上一帮刚刚完成培训的操作工人，这么多不利因素叠加在一起，生产出来的芯片全军覆没，不是很正常吗。” 

 “说的也是，这次生产测试失败了也没什么，只要咱们能找出问题出现在哪里，然后在后续的测试中更正它就好。” 

 就在众人议论纷纷的时候，芯片测试员小姑娘，发出了一声惊呼，吸引了所有人的注意，“呀，终于检测到了一枚合格的芯片！” 

 “真的吗，快让我看看，第47号晶圆，编号145芯片，检测合格！这真是太好了，终于有一枚合格的芯片了。” 

 “这至少证明了，乔总提供的掩膜版没问题，是可以生产出合格内存芯片的。” 

 “赶紧把那枚合格的芯片剪裁下来，进行封装测试。7nm工艺生产的ddr3内存，我还没见过呢，相信在功耗、发热和超频性能上，会有着非常优秀的表现。” 

 有了这个好的开头，后面的晶圆上，又陆续检测出了几十枚合格的芯片。一众工程师将这些合格的芯片剪裁下来，而后封装，加工成了几根8g大小的ddr3内存条。乔瑞达将这几根内存条，装到几台不同品牌，不同配置的电脑上，进行了一番详细测试。测试结果表明，这些瑞芯晶圆厂自产的内存，兼容性良好，发热量很低，超频性能极其优秀，即使跑到2133mhz的超高频率上，也非常的稳定。 

 乔瑞达将内存测试报告打印出来，分给王院士、周教授等人一人一份，“这是测试报告，大家都看一下吧。”